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用于α能譜測量的Si帶電粒子輻射探測器

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廠商性質：生產廠家

更新時間：2025-07-25

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簡要描述：能譜學中見的應用領域是放射化學、保健物理和環境樣品的篩查

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α能譜學中見的應用領域是放射化學、保健物理和環境樣品的篩查。這些應用的硅輻射探測器是耗盡深度≥100微米的ULTRA輻射探測器和具有超低背景的ULTRA-AS輻射探測器。

此外，許多設施繼續使用具有低背景又不透光的加固（R系列）面壘型輻射探測器。“SEE-NO-ALPHA”選件可提供保證的分辨率規格，并且未暴露于α源可防止反散射污染。

*所有分辨率測量均在21±1°C下執行和保證。

**用5.486-MeV天然α粒子測量。

† ULTRA系列探測器采用離子注入二氧化硅鈍化技術制造。可為特殊訂單提供允許在200°C下烘烤的版本。

	ULTRA†	ULTRA AS†
主要應用	高分辨率、高效率的α和β能譜測量	超低本底的高效α能譜測量
主要特點/優點	使用超薄接觸級，提供能量分辨率通過特設間距實現高效率采用表面鈍化技術保證器件穩定性超長壽命的鍍金防護高品質和可靠性	使用超薄接觸級，提供能量分辨率通過特設間距實現高效率采用表面鈍化技術保證器件穩定性超長壽命的鍍金防護高品質和可靠性
起始材料	Si	Si
有效面積范圍 (mm²)	25-3000	300–1200
有效厚度范圍 (µm)	100-500	100
保證工作溫度范圍*	+50°C 至 –30°C	+50°C 至 –30°C
二極管結構	注入硼 - N型Si作為部分耗盡注入	注入硼 - N型Si作為部分耗盡注入
名義當量窗口的截止能量**	入射 500 Å Si	入射 500 Å Si

用于α能譜測量的Si帶電粒子輻射探測器