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ORTEC早在1970s就開(kāi)始N型高純鍺的制造領(lǐng)域,并且在1990s使用4個(gè)N型晶體的高純鍺制造出了TETRAD探測(cè)器
專門設(shè)計(jì)用于滿足安全保障和NDA中所使用同位素比率軟件代碼的苛刻要求
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在3至300keV范圍內(nèi)具有出色的能量分辨率 有效面積從30到1000mm2不等 PopTop的靈活性 的定時(shí)性能 可提供直徑大于36毫米的探測(cè)器 可配備特殊反饋電阻
ORTECGWL系列高純鍺(HPGe)井型探測(cè)器是小樣品低水平計(jì)數(shù)的理想解決方案
GAMMA-XN型同軸HPGe探測(cè)器適用于能量范圍為~3keV及以上的高性能伽馬能譜測(cè)量
ORTECPROFILE系列P型高純鍺(HPGe)探測(cè)器可根據(jù)您的應(yīng)用匹配晶體尺寸,從而提供的計(jì)數(shù)幾何形狀和結(jié)果
ORTECGEM輻射探測(cè)器是一款P型同軸HPGe探測(cè)器,適用于~40keV及以上典型能量范圍的能譜測(cè)量
高純鍺(HPGe)輻射探測(cè)器的分類ORTEC提供各種HPGe輻射探測(cè)器解決方案,涵蓋了幾百電子伏特(eV)范圍內(nèi)的X射線能量以及10MeV及以上范圍內(nèi)的伽馬射線能量
基于半導(dǎo)體的輻射探測(cè)器已經(jīng)有半個(gè)多世紀(jì)的歷史,ORTEC在這期間起到了先鋒帶頭作用